在电子元器件应用领域，大规模的电路集成封装技术得到普遍的重视，特别是大规模的集成封装与外部连线数量最多的多达数百根，而在以平方厘米为基座的芯片基底上，完成连线节点的分布，项目难度可想而知，在实际生产过程中，元器件与PCB板的节点上，除周边外面可以看出一些节点之外，其他地方都无法用肉眼观察到内部是否焊接正常，而每一个节点都不可能完美无缺，一定会存在各种不同的下次（如桥连、虚焊、焊球、不能充分润湿等），这些缺陷会严重影响产品的使用性能，所以如果想深入的了解焊接质量，单纯的采用AOI检测是不行的，需要采用可以透过产品外部直接看到产品内部缺陷的X-RAY检测设备。

X-RAY检测设备采用X射线直接穿透产品外观，直达产品内部，由于不同材料吸收光线的程度不同，所以落在探测器上的明暗程度也呈现千差外别，X-RAY检测设备就是利用这个特性，实现对产品内部探伤检测的。
原理图如下：BGA最常见的难题主要有：球珊阵列元器件BGA浸润缺陷、内部结构裂纹、断层，空洞、连锡、少锡，复杂精密组装部件中的坏件、移位、隐藏原件，pcb线路板开路/短路、电子元件失效等。
使用X-RAY检测设备看到的实拍图如下:

从上图，我们可以清晰的看到产品内部是否存在缺陷。